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Hot Small-Signal S-Parameter Measurements of Power Transistors Operating Under Large-Signal Conditions in a Load-Pull Environment for the Study of Nonlinear Parametric Interactions

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Gasseling, T. Barataud, D. Mons, S. Nebus, J.-M. Villotte, J. P. Obregon, J. J. Quere, R. Pág. 805 - 812

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 52 Num: 3 Par: 0 Año: 2004

40-GHz/150-ns Versatile Pulsed Measurement System for Microwave Transistor Isothermal Characterization

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Teyssier, J-P; Bouysse, P; Ouarch, Z; Barataud, D; Peyretaillade, T; Qu Pág. 2043 - 2052

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 46 Num: 12 (1) Par: 0 Año: 1998

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