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Thermal conductivity calibration for hot wire based dc scanning thermal microscopy

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Lefevre, S. Volz, S. Saulnier, J.-B. Fuentes, C. Trannoy, N. Pág. 2418 - 2423

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 4 Par: 0 Año: 2003

Firmness Decline in Gala Apple during Fruit Development

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Volz, R. K. Harker, F. R. Lang, S. Pág. 797 - 802

Revista: JOURNAL OF THE AMERICAN SOCIETY FOR HORTICULTURAL SCIENCE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 128 Num: 6 Par: 0 Año: 2003

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