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Sangno Lee, Soon-Young Huh, Ronald D. McNiel     Pág. 1132 - 1144
Revista: EXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS    Formato: Impreso

 
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Myung Keun Shin, Soon Young Huh and Wooke     Pág. 469 - 484
Revista: EXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS    Formato: Impreso

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