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Absolute response of Fuji imaging plate detectors to picosecond-electron bunches

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K. Zeil, S. D. Kraft, A. Jochmann, F. Kroll, W. Jahr, U. Schramm, L. Karsch, J. Pawelke, B. Hidding, and G. Pretzler

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 81 Num: 1 Par: 0 Año: 2010

Absolute charge calibration of scintillating screens for relativistic electron detection

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A. Buck, K. Zeil, A. Popp, K. Schmid, A. Jochmann, S. D. Kraft, B. Hidding, T. Kudyakov, C. M. S. Sears, L. Veisz, S. Karsch, J. Pawelke, R. Sauerbrey, T. Cowan, F. Krausz, et al

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 81 Num: 3 Par: 0 Año: 2010

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