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Van Caenegem, R.; Colle, D.; Pickavet, M.; Demeester, P.; Christodoulopoulos, K.; Vlachos, K.; Varvarigos, E.; Stampoulidis, L.; Roccato, D.; Vilar, R     Pág. 52 - 61
Revista: IEEE COMMUNICATIONS MAGAZINE    Formato: Impreso

 
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Delbo S. Gamba P. Roccato D.     Pág. 1447 - 1450

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