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Measurement of mechanical properties of three-dimensional nanometric objects by an atomic force microscope incorporated in a scanning electron microscope

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Fukushima, K. Kawai, S. Saya, D. Kawakatsu, H. Pág. 2647 - 2650

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 73 Num: 7 Par: 0 Año: 2002

Towards atomic force microscopy up to 100 MHz

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Kawakatsu, H. Kawai, S. Saya, D. Nagashio, M. Kobayashi, D. Toshiyoshi, H. Fujita, H. Pág. 2317 - 2320

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 73 Num: 6 Par: 0 Año: 2002

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