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Transmission electron microscopy specimen holder for simultaneous in situ heating and electrical resistance measurements

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Verheijen, M. A. Donkers, J. J. T. M. Thomassen, J. F. P. van den Broek, J. J. van der Rijt, R. A. F. Dona, M. J. J. Smit, C. M. Pág. 426 - 429

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 75 Num: 2 Par: 0 Año: 2004

Modeling of industrial crystallizers for control and design purposes

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Kramer, H.J.M.; Dijkstra, J.W.; Verheijen, P.J.T.; Van Rosmalen, G.M. Pág. 185 - 191

Revista: POWDER TECHNOLOGY Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 108 Num: 2-3 Par: 0 Año: 2000

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