AVANZADA

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Demonstration of low-temperature atomic force microscope with atomic resolution using piezoresistive cantilevers

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Ichiro Shiraki, Yutaka Miyatake, Toshihiko Nagamura, and Kazushi Miki

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 77 Num: 2 Par: 0 Año: 2006

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