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Hot-cathode-ionization-gauge system with a self-compensating circuit for errors caused by an external-electron source

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Hiroshi Saeki, Tamotsu Magome, Tsuyoshi Aoki, Nobuaki Gotoh, and Takashi Momose Pág. 5152 - 5159

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 75 Num: 12 Par: 0 Año: 2004

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