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A Lazy Approach to Associative Classification
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Baralis, E.; Chiusano, S.; Garza, P.
Pág. 156 - 171
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON KNOWLEDGE AND DATA ENGINEERING
Formato:
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Vol: 20 Num: 2 Par: 0 Año: 2008
An On-Line BIST RAM Architecture With Self-Repair Capabilities
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Benso, A. Chiusano, S. Di Natale, G. Prinetto, P.
Pág. 123 - 128
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 51 Num: 1 Par: 0 Año: 2002
TESTING OF TELECOMMUNICATION HARDWARE - TESTING EMBEDDED MEMORIES IN TELECOMMUNICATION SYSTEMS - This article analyzes major problems related to testing complex telecommunication systems, with particular emphasis on their memory modules
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Barbagallo, Stefano; Benso, Alfredo; Chiusano, Silvia; Bodoni, Monica Lobetti
Pág. 84 - 89
Revista:
IEEE COMMUNICATIONS MAGAZINE
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 37 Num: 6 Par: 0 Año: 1999
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