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Employing a Ground Model to Accurately Characterize Electronic Devices Measured With GSG Probes

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Jamneala, T. Bradley, P. D. Feld, D. A. Pág. 640 - 645

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 52 Num: 2 Par: 0 Año: 2004

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