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Removing interference and optical feedback artifacts in atomic force microscopy measurements by application of high frequency laser current modulation

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Kassies, R. van der Werf, K. O. Bennink, M. L. Otto, C. Pág. 689 - 693

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 75 Num: 3 Par: 0 Año: 2004

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