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Development of a combined interference microscope objective and scanning probe microscope

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Tyrrell, J. W. G. Savio, C. D. Kruger-Sehm, R. Danzebrink, H.-U. Pág. 1120 - 1126

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 75 Num: 4 Par: 0 Año: 2004

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