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Elemental analysis of multilayer samples by means of combined laser ablation and x-ray fluorescence spectrometry

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Fiorini, C. Gianoncelli, A. Longoni, A. Comelli, D. D Andrea, C. Valentini, G. Pág. 1048 - 1056

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 2 Par: 0 Año: 2003

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