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Y. Liu, C. Baktash, J. R. Beene, Ch. Geppert, T. Gottwald, C. C. Havener, T. Kessler, H. F. Krause, D. R. Schultz, D. W. Stracener, C. R. Vane, K. Wies, and K. Wendt    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

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