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Induced thermal stress fields for three-dimensional distortion control of Si wafer topography

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Schaper, C. D. Chen, B.-D. Pease, R. F. W. Pág. 1997 - 2002

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 75 Num: 6 Par: 0 Año: 2004

Physical Scaling Rules for AlGaAs/GaAs Power HBT's Based on a Small-Signal Equivalent Circuit

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Schaper, U; Zwicknagl, P Pág. 1006 - 1008

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 46 Num: 7 Par: 0 Año: 1998

Radio-Frequency Integrated Circuits - Low-Cost GaAs pHEMT MMIC's for Millimeter-Wave Sensor Applications

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Siweris, H J; Werthof, A; Tischer, H; Schaper, U; Schäfer, A; Verweyen Pág. 2560 - 2567

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 46 Num: 12 (2) Par: 0 Año: 1998

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