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Transmission electron microscopy study of an electron-beam-induced phase transformation of niobium nitride

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Jonghan Won, James A. Valdez, Muneyuki Naito, Manabu Ishimaru, Kurt E. Sickafus Pág. 799 - 802

Revista: SCRIPTA MATERIALIA Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 60 Num: 9 Par: 0 Año: 2009

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