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R. Calistes, S. Swaminathan, T.G. Murthy, C. Huang, C. Saldana, M.R. Shankar, S. Chandrasekar     Pág. 17 - 20
Revista: SCRIPTA MATERIALIA    Formato: Impreso

 
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Jiang, R. Murthy, D. N.     Pág. 1259 - 1273
Revista: MATHEMATICAL AND COMPUTER MODELLING    Formato: Impreso

 
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Keskinocak, P - Wu, F - Goodwin, R - Murthy, S - Akkiraju, R - Kumaran, S -     Pág. 249 - 259
Revista: OPERATIONS RESEARCH    Formato: Impreso

 
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Murthy, K S R K; Mukhopadhyay, M     Pág. 509 - 509

 
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Islam, M S; Murthy, S; Itoh, T; Wu, M C; Novak, D; Waterhouse, R B; Sivco,     Pág. 1914 - 1920

 
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Keerthi, S S; Shevade, S K; Bhattacharyya, C; Murthy, K R K     Pág. 124 - 136
Revista: IEEE TRANSACTIONS ON NEURAL NETWORK    Formato: Impreso

 
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Shevade, S K; Keerthi, S S; Bhattacharyya, C; Murthy, K R K     Pág. 1188 - 1193
Revista: IEEE TRANSACTIONS ON NEURAL NETWORK    Formato: Impreso

 
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Jiang, R; Murthy, D     Pág. 68 - 72
Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY    Formato: Impreso

 
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Manimaran, G; Murthy, C S R     Pág. 312 - 319

 
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Jiang, R; Murthy, D     Pág. 389 - 392
Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY    Formato: Impreso

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