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R. Gopalan, K. Hono, A. Yan, O. Gutfleisch     Pág. 764 - 767
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B. Srinivasarao, K. Oh-ishi, T. Ohkubo, T. Mukai, K. Hono     Pág. 759 - 762
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T.T. Sasaki, K. Yamamoto, T. Honma, S. Kamado, K. Hono     Pág. 1111 - 1114
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T. Abe, M. Shimono, K. Hashimoto, K. Hono and H. Onodera     Pág. 421 - 424
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T.T. Sasaki, K. Oh-ishi, T. Ohkubo and K. Hono     Pág. 251 - 254
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E.S. Park, H.J. Chang, D.H. Kim, T. Ohkubo and K. Hono     Pág. 1569 - 1573
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G. Kumar, D. Nagahama, M. Ohnuma, T. Ohkubo and K. Hono     Pág. 801 - 805
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R. Gopalan, T. Ohkubo and K. Hono     Pág. 1345 - 1349
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A.A. Kündig, R. Gopalan, T. Ohkubo and K. Hono     Pág. 2047 - 2051
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A.A. Kündig, M. Ohnuma, T. Ohkubo, T. Abe and K. Hono     Pág. 449 - 452
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