8 Artículos

The Future of Industrial Statistics: A Panel Discussion

Solicitud

usuarios registrados

Steinberg, David M.; Bisgaard, Søren; Doganaksoy, Necip; Fisher, Nicholas; Gunter, Bert; Hahn, Gerald; Keller-McNulty, Sallie; Kettenring, Jon; Meeker, William Q.; Montgomery, Douglas C.; Wu, C. F. Jeff Pág. 103 - 127

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 50 Num: 2 Par: 0 Año: 2008

Statistics Roundtable: Reliability Assessment by Use-Rate Acceleration

Solicitud

usuarios registrados

Necip Doganaksoy, Gerald J. Hahn, William Q. Meeker

Revista: QUALITY PROGRESS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 40 Num: 6 Par: 0 Año: 2007

Speedier Reliability Analysis: Accelerated life tests provide statistical assurance reliability goals can be met and an early warning if they cannot

Solicitud

usuarios registrados

Hahn, G. J. Meeker, W. Q. Doganaksoy, N. Pág. 58 - 64

Revista: QUALITY PROGRESS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 36 Num: 6 Par: 0 Año: 2003

Reliability Analysis by Failure Mode

Solicitud

usuarios registrados

Doganaksoy, N. Hahn, G. J. Meeker, W. O. Pág. 47 - 54

Revista: QUALITY PROGRESS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 35 Num: 6 Par: 0 Año: 2002

« Anterior Página: 1 de 1 Siguiente »