Revistas
Artículos
Publicaciones
Documentos
AVANZADA
1
Artículos
Buscar Revistas
How Easy is Matching 2D Line Models Using Local Search?
Solicitud
usuarios registrados
Beveridge, J R; Risemanr, E M
Pág. 564 - 579
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 19 Num: 6 Par: 0 Año: 1997
« Anterior
Página: 1 de 1
Siguiente »