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Simultaneous Noncontact Precision Imaging of Microstructural and Thickness Variation in Dielectric Materials Using Terahertz Energy

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Roth, D.J.; Seebo, J.P.; Winfree, W.P. Pág. 325 - 331

Revista: MATERIALS EVALUATION Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 66 Num: 3 Par: 0 Año: 2008

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