2   Artículos

 
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Venkatesh, S.; Adams, B.; Phung, D.; Dorai, C.; Farrell, R. G.; Agnihotri, L.; Dimitrova, N.     Pág. 697 - 711
Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE    Formato: Impreso

 
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D M Farrell, B J Robbins, J Stallings, S Cardoso and W Bakker     Pág. 690
Revista: INSIGHT    Formato: Impreso

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