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On the Deembedding Issue of CMOS Multigigahertz Measurements

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Issaoun, A.; Yong Zhong Xiong; Jinglin Shi; Brinkhoff, J.; Fujiang Lin Pág. 1813 - 1823

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 55 Num: 9 Par: 0 Año: 2007

Baseband Impedance and Linearization of FET Circuits

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Brinkhoff, J. Parker, A. E. Leung, M. Pág. 2523 - 2530

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 51 Num: 12 Par: Año: 2003

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