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Plane-strain bulge test for nanocrystalline copper thin films

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Xiaoding Wei, Dongyun Lee, Sanghoon Shim, Xi Chen and Jeffrey W. Pág. 541 - 544

Revista: SCRIPTA MATERIALIA Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 57 Num: 6 Par: 0 Año: 2007

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