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Hole Filling of a 3D Model by Flipping Signs of a Signed Distance Field in Adaptive Resolution
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Sagawa, Ryusuke; Ikeuchi, Katsushi
Pág. 686 - 699
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 30 Num: 4 Par: 0 Año: 2008
Adaptively merging large-scale range data with reflectance properties
Solicitud
usuarios registrados
Sagawa, R.; Nishino, K.; Ikeuchi, K.
Pág. 392 - 405
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 27 Num: 3 Par: 0 Año: 2005
Geometrical Structures and Fundamental Characteristics of Microwave Stepped-Impedance Resonators
Solicitud
usuarios registrados
Sagawa, M; Makimoto, M; Yamashita, S
Pág. 1078 - 1092
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 45 Num: 7 Par: 0 Año: 1997
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