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Quantitative scanning near-field microwave microscopy for thin film dielectric constant measurement

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A. Karbassi, D. Ruf, A. D. Bettermann, C. A. Paulson, Daniel W. van der Weide, H. Tanbakuchi, and R. Stancliff

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 79 Num: 9 Par: 0 Año: 2008

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