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Wechsler, H. Duric, Z. Li, F. Cherkassky, V.     Pág. 466 - 478

 
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Duric, Z. Gray, W. D. Heishman, R. Li, F. Rosenfeld, A. Schoelles, M. J. Schunn, C. Wechsler, H.     Pág. 1272 - 1289
Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE    Formato: Impreso

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