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Polarimetric interferometer for nanoscale positioning applications
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S. Xu, K. Ouedraogo, L. Chassagne, S. Topçu, P. Juncar, and Y. Alayli
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 79 Num: 12 Par: 0 Año: 2008
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