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Easy-to-use unglued tip replacement near-field optical microscope with piezoelectric shear force detection

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Mulin, D.; Vannier, C.; Bainier, C.; Courjon, D.; Spajer, M. Pág. 3441 - 3443

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 71 Num: 9 Par: 0 Año: 2000

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