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TECHNOMETRICS

   
Inicio  /  TECHNOMETRICS  /  Vol: 48 Núm: 1 Par: 0 (2006)  /  Artículo
ARTÍCULO
TITULO

Wavelet-Based Data Reduction Techniques for Process Fault Detection

Jeong    
Myong K.    
Lu    
Jye-Chyi    
Huo    
Xiaoming    
Vidakovic    
Brani    
Di Chen    
    

Resumen

No disponible

PÁGINAS
pp. 26 - 40
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