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IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES / Vol: 46 Núm: 12 (2) Par: 0 (1998) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Electrooptic and Lightwave Technologies - Absolute Potential Measurements Inside Microwave Digital IC's Using a Micromachined Photoconductive Sampling Probe

David

G

Yun

T-Y

Crites

M H

Whitaker

J F

Weatherford

T R

Jobe

K

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 2330 - 2337

NÚMERO

Volumen: 46 Número: 12 (2) Parte: 0 (1998)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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