Revistas
Artículos
Publicaciones
Documentos
REVISTA
IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES
TODAS
Inicio
/
IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES
/
Vol: 51 Núm: 1 Par: 1 (2003)
/
Artículo
ARTÍCULO
TITULO
Fast Capacitance Extraction of Actual 3-D VLSI Interconnects Using Quasi-Multiple Medium Accelerated BEM
Yu
W. Wang
Z. Gu
J.
Resumen
No disponible
PÁGINAS
pp. 109 - 119
NÚMERO
Volumen: 51 Número: 1 Parte: 1 (2003)
MATERIAS
INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL
REVISTAS SIMILARES
Applied Sciences
Coatings
Water
Artículos similares
A Fast Multipole-Method-Based Calculation of the Capacitance Matrix for Multiple Conductors Above Stratitied Dielectric Media
Acceso
Pan, Y C; Chew, W C; Wan, L X
Pág. 480 - 490
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES
Fast and Accurate Extraction of Capacitance Parameters for the Statz MESFET Model
Acceso
Bosch, S Van den; Martens, L
Pág. 1247 - 1248
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES
Revistas destacadas
Infrastructures
Informed Infraestructure
BiT
Revista de la Construcción
Ver todas las revistas