REVISTA
TECHNOMETRICS

Inicio / TECHNOMETRICS / Vol: 47 Núm: 4 Par: 0 (2005) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

A Bayesian Scheme to Detect Changes in the Mean of a Short-Run Process

Tsiamyrtzis

Panagiotis

Hawkins

Douglas M

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 446 - 456

NÚMERO

Volumen: 47 Número: 4 Parte: 0 (2005)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL
CIENCIAS EXACTAS

REVISTAS SIMILARES

Journal of Marine Science and Engineering
Applied Sciences
Information

Artículos similares

Revistas destacadas

Acceso directo a los números publicados en la revista Infrastructures

Infrastructures

Acceso directo a los números publicados en la revista Informed Infraestructure

Informed Infraestructure

Acceso directo a los números publicados en la revista BiT

BiT

Acceso directo a los números publicados en la revista Revista de la Construcción

Revista de la Construcción

Ver todas las revistas