Acceso al sitio web del Consejo de Políticas de Infraestructura

   
ARTÍCULO
TITULO

Removing interference and optical feedback artifacts in atomic force microscopy measurements by application of high frequency laser current modulation

Kassies    
R. van der Werf    
K. O. Bennink    
M. L. Otto    
C.    

Resumen

No disponible

PÁGINAS
pp. 689 - 693

 Artículos similares