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ARTÍCULO
TITULO

Physics-Based Large-Signal Sensitivity Analysis of Microwave Circuits Using Technological Parametric Sensitivity from Multidimensional Semiconductor Device Models

Bonani    
F    
Guerrieri    
S Donati    
Filicori    
F    
Ghione    
G    
Pirola    
M    

Resumen

No disponible

PÁGINAS
pp. 846 - 855
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