REVISTA
TECHNOMETRICS

Inicio / TECHNOMETRICS / Vol: 51 Núm: 1 Par: 0 (2009) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Accelerated Destructive Degradation Test Planning.

Ying Shi

Luis A. Escobar

William Q. Meeker

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 1 - 13

NÚMERO

Volumen: 51 Número: 1 Parte: 0 (2009)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL
CIENCIAS EXACTAS

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