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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS

Inicio / REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS / Vol: 72 Núm: 2 Par: 0 (2001) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

A portable ultrahigh vacuum organic molecular beam deposition system for in situ x-ray diffraction measurements

Ritley

K. A.

Krause

B.

Schreiber

F.

Dosch

H.

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 1453 - 1457

NÚMERO

Volumen: 72 Número: 2 Parte: 0 (2001)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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