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IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES / Vol: 51 Núm: 5 Par: 0 (2003) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

A Wide-Band On-Wafer Noise Parameter Measurement System at 50-75 GHz

Kantanen

M. Lahdes

M. Vaha-Heikkila

T. Tuovinen

J.

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 1489 - 1495

NÚMERO

Volumen: 51 Número: 5 Parte: 0 (2003)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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