REVISTA
IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY / Vol: 46 Núm: 2 Par: 0 (1997) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Modeling testing-strategies for yield enhancement of multichip module systems

Kim

Park

Lombardi

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 184 - 191

NÚMERO

Volumen: 46 Número: 2 Parte: 0 (1997)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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