REVISTA
IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY / Vol: 51 Núm: 4 Par: 0 (2002) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Practical Building-In Reliability Approaches for Semiconductor Manufacturing

Chien

W.-T. K. Huang

C. H. J.

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 469 - 481

NÚMERO

Volumen: 51 Número: 4 Parte: 0 (2002)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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