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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS

Inicio / REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS / Vol: 79 Núm: 9 Par: 0 (2008) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

An automated submicron beam profiler for characterization of high numerical aperture optics

J. J. Chapman

B. G. Norton

E. W. Streed

and D. Kielpinski

Resumen

No disponible

PÁGINAS

NÚMERO

Volumen: 79 Número: 9 Parte: 0 (2008)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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