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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS

Inicio / REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS / Vol: 75 Núm: 12 Par: 0 (2004) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Temporally resolved Schwarzschild microscope for the characterization of extreme ultraviolet emission in laser-produced plasmas

Y. Tao

M. Nakai

H. Nishimura

S. Fujioka

T. Okuno

T. Fujiwara

N. Ueda

N. Miyanaga

and Y. Izawa

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 5173 - 5176

NÚMERO

Volumen: 75 Número: 12 Parte: 0 (2004)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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