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ARTÍCULO
TITULO

Dedicated Max-Planck beamline for the in situ investigation of interfaces and thin films

A. Stierle    
A. Steinhäuser    
A. Rühm    
F. U. Renner    
R. Weigel    
N. Kasper    
and H. Dosch    

Resumen

No disponible

PÁGINAS
pp. 5302 - 5307