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PROCEEDINGS OF THE IEEE

Inicio / PROCEEDINGS OF THE IEEE / Vol: 91 Núm: 5 Par: 0 (2003) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

The Magnetic-Resonance Force Microscope: A New Tool for High-Resolution, 3-D, Subsurface Scanned Probe Imaging

Hammel

P. C. Pelekhov

D. V. Wigen

P. E. Gosnell

T. R. Midzor

M. M. Roukes

M. L.

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 789 - 798

NÚMERO

Volumen: 91 Número: 5 Parte: 0 (2003)

MATERIAS

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