REVISTA
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS

Inicio / REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS / Vol: 79 Núm: 2 Par: 0 (2008) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Two-axis probing system for atomic force microscopy

G. R. Jayanth

Sissy M. Jhiang

and Chia-Hsiang Menq

Resumen

No disponible

PÁGINAS

NÚMERO

Volumen: 79 Número: 2 Parte: 0 (2008)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

Revistas destacadas

Acceso directo a los números publicados en la revista Infrastructures

Infrastructures

Acceso directo a los números publicados en la revista Informed Infraestructure

Informed Infraestructure

Acceso directo a los números publicados en la revista BiT

BiT

Acceso directo a los números publicados en la revista Revista de la Construcción

Revista de la Construcción

Ver todas las revistas