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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY / Vol: 46 Núm: 1 Par: 0 (1997) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Dynamic life-estimation of CMOS ICs in real operating environment: Precise electrical method and MLE

Son

K

Soma

M

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 31 - 36

NÚMERO

Volumen: 46 Número: 1 Parte: 0 (1997)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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