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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY / Vol: 46 Núm: 1 Par: 0 (1997) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Bayes inference for s-shaped software-reliability growth models

Kuo

L

Lee

J

Choi

K

Yang

T

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 76 - 80

NÚMERO

Volumen: 46 Número: 1 Parte: 0 (1997)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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