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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS

Inicio / REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS / Vol: 79 Núm: 2 Par: 0 (2008) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Scanning magnetoresistance microscopy of atom chips

M. Volk

S. Whitlock

C. H. Wolff

B. V. Hall

and A. I. Sidorov

Resumen

No disponible

PÁGINAS

NÚMERO

Volumen: 79 Número: 2 Parte: 0 (2008)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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