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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS

Inicio / REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS / Vol: 77 Núm: 4 Par: 0 (2006) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Second-order aberration corrected electron energy loss spectroscopy attachment for scanning electron microscopes

T. Luo and A. Khursheed

Resumen

No disponible

PÁGINAS

NÚMERO

Volumen: 77 Número: 4 Parte: 0 (2006)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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